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　　ICP光譜儀在光譜儀炬管組件中產生的ICP光源，其觀察(cha)方式(shi)有3種，分別是：垂直觀察(cha)(Radial)、水平(ping)觀察(cha)(Axial)和雙向(xiang)觀察(cha)(DUO)

　　垂直(zhi)觀(guan)(guan)察(cha)：又稱為徑向觀(guan)(guan)察(cha)或者測(ce)(ce)試觀(guan)(guan)察(cha)，是采用垂直(zhi)放(fang)置的(de)(de)(de)(de)ICP光譜(pu)儀炬管，“火焰”氣(qi)(qi)流方(fang)(fang)向與采光光路方(fang)(fang)向垂直(zhi);從光譜(pu)儀能夠接(jie)收整個分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)區的(de)(de)(de)(de)所有(you)信號。對不同的(de)(de)(de)(de)元素不用進行(xing)炬管調(diao)節(jie)，是分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)測(ce)(ce)試的(de)(de)(de)(de)常用觀(guan)(guan)察(cha)方(fang)(fang)式(shi)。具(ju)有(you)更(geng)小的(de)(de)(de)(de)基體(ti)效應和干擾，特別是對有(you)機樣品(pin);對復(fu)雜基體(ti)也有(you)好(hao)的(de)(de)(de)(de)檢出限(xian)。可以(yi)測(ce)(ce)定任(ren)何基體(ti)的(de)(de)(de)(de)溶液(ye)，如高鹽(yan)分(fen)(fen)樣品(pin)測(ce)(ce)定、復(fu)雜樣品(pin)的(de)(de)(de)(de)分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)、有(you)機物而積炭相對不嚴重的(de)(de)(de)(de)分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)。較低的(de)(de)(de)(de)氬(ya)氣(qi)(qi)消耗(hao)量(liang)。側向觀(guan)(guan)測(ce)(ce)方(fang)(fang)式(shi)的(de)(de)(de)(de)炬管是垂直(zhi)炬，熱量(liang)和分(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)廢氣(qi)(qi)自(zi)然向上進入排氣(qi)(qi)系統(tong)。

　　水(shui)(shui)(shui)平(ping)(ping)觀(guan)(guan)察(cha)：又稱(cheng)為軸向觀(guan)(guan)察(cha)或端視(shi)觀(guan)(guan)測，是采(cai)用(yong)水(shui)(shui)(shui)平(ping)(ping)放置的(de)(de)(de)ICP光譜儀炬管，“火焰(yan)”氣流方(fang)向與(yu)采(cai)光光路方(fang)向呈水(shui)(shui)(shui)平(ping)(ping)重(zhong)合(he);可(ke)使整個火焰(yan)個個部分的(de)(de)(de)光都全部通過狹縫。水(shui)(shui)(shui)平(ping)(ping)觀(guan)(guan)察(cha)方(fang)式的(de)(de)(de)優(you)點是：由于整個“火焰(yan)”各個部分的(de)(de)(de)光都可(ke)以被采(cai)集(ji)導致靈(ling)敏度高，對簡單樣品(pin)有較好的(de)(de)(de)檢出限;其缺點：基(ji)體效應和電(dian)離干擾大，線性范圍小，炬管溶液積炭和積鹽而(er)沾(zhan)污，需要(yao)及時(shi)清(qing)洗(xi)和維護，RF功率(lv)設置不能(neng)一般不超過1350W;使用(yong)于光譜儀水(shui)(shui)(shui)質(zhi)分析中。

　　雙(shuang)向(xiang)(xiang)觀(guan)測(ce)(ce)(ce)(ce)：雙(shuang)向(xiang)(xiang)觀(guan)測(ce)(ce)(ce)(ce)是在水平(ping)(ping)觀(guan)測(ce)(ce)(ce)(ce)ICP光(guang)源的(de)(de)基礎，增(zeng)加(jia)一套(tao)側向(xiang)(xiang)采(cai)光(guang)光(guang)路(lu)，實(shi)現垂直(zhi)/水平(ping)(ping)雙(shuang)向(xiang)(xiang)觀(guan)測(ce)(ce)(ce)(ce)，即在炬管垂直(zhi)觀(guan)測(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)方(fang)向(xiang)(xiang)依次放置3塊(kuai)反(fan)(fan)射鏡(jing)(jing)，當要使用垂直(zhi)觀(guan)測(ce)(ce)(ce)(ce)的(de)(de)時候，就通過3塊(kuai)反(fan)(fan)射鏡(jing)(jing)把炬管垂直(zhi)方(fang)向(xiang)(xiang)上的(de)(de)光(guang)反(fan)(fan)射到原光(guang)路(lu)中，并(bing)通過旋轉原光(guang)路(lu)的(de)(de)第一塊(kuai)反(fan)(fan)射鏡(jing)(jing)，使垂直(zhi)方(fang)向(xiang)(xiang)來的(de)(de)光(guang)與原水平(ping)(ping)方(fang)向(xiang)(xiang)來的(de)(de)光(guang)在整個光(guang)路(lu)中重合。該觀(guan)測(ce)(ce)(ce)(ce)方(fang)式(shi)的(de)(de)切換反(fan)(fan)射鏡(jing)(jing)由計算機控制，該方(fang)式(shi)融合了軸向(xiang)(xiang)、徑(jing)向(xiang)(xiang)的(de)(de)特點，具有(you)一定(ding)的(de)(de)靈活性(xing)，增(zeng)強(qiang)了測(ce)(ce)(ce)(ce)定(ding)復雜樣(yang)品的(de)(de)能(neng)力。改觀(guan)測(ce)(ce)(ce)(ce)方(fang)式(shi)可實(shi)現以下3中方(fang)式(shi)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)：

　　①全部元素(su)譜線水平測(ce)量。

　　②全部元素譜線垂直(zhi)測(ce)量。

　　③部分元(yuan)(yuan)素譜線水(shui)平測量，部分元(yuan)(yuan)素譜線垂(chui)直(zhi)測量。

　　雙向觀(guan)(guan)測(ce)能有(you)效解決(jue)水平觀(guan)(guan)測(ce)中存(cun)在的電子干擾，進一步(bu)擴寬線性范圍。但是該(gai)觀(guan)(guan)測(ce)方(fang)式需要(yao)不斷地切換反射鏡，可  能導致(zhi)(zhi)儀(yi)器的穩(wen)定(ding)性變差。由于(yu)徑向觀(guan)(guan)測(ce)的需要(yao)，炬(ju)管側面必須開(kai)口(kou)(kou)，導致(zhi)(zhi)炬(ju)管的壽命大(da)大(da)降(jiang)低，同時也(ye)改變了(le)炬(ju)焰的形狀。炬(ju)管開(kai)口(kou)(kou)處必須嚴格(ge)與光(guang)路對準(zhun)，要(yao)不然炬(ju)管壁容易積累鹽(yan)，會使檢(jian)測(ce)結(jie)果嚴重錯誤;同時如果在開(kai)口(kou)(kou)出現積鹽(yan)同樣也(ye)會導致(zhi)(zhi)儀(yi)器檢(jian)測(ce)結(jie)構存(cun)在嚴重的錯誤，必須注意清(qing)洗。而(er)且(qie)增加了(le)曝光(guang)次數，降(jiang)低了(le)分(fen)(fen)析速度，增加了(le)分(fen)(fen)析消耗。